我國引進*納米離子探針通過驗收

我國引進*納米離子探針通過驗收

 我國引進的*台NanoSIMS 50L型納米離子探針驗收會(hui) 於(yu) 近日在中國科學院地質於(yu) 地球物理研究所召開。中國科學院地質於(yu) 地球物理研究所副所長吳福元研究員為(wei) 組長的專(zhuan) 家組認真聽取了法國CAMECA公司納米離子探針設計師、François Hillion博士所作的驗收報告。專(zhuan) 家組對儀(yi) 器的驗收指標有關(guan) 問題進行了提問，一致認為(wei) 該儀(yi) 器的技術參數不僅(jin) 全部達到合同要求，大部分還優(you) 於(yu) 合同要求的驗收指標。

    納米離子探針具有*的空間分辨率（Cs+源束斑小於(yu) 50nm，O-源束斑小於(yu) 200nm），與(yu) 我所已有的CAMECA ims 280高精度離子探針互補，構成上非常先進的的離子探針分析平台。新引進的NanoSIMS 50L型納米離子探針配置了7個(ge) 信號檢測器（每個(ge) 配置法拉第杯和電子倍增器），可以同時測量7個(ge) 同位素（或元素），分析精度好於(yu) 千分之一。該儀(yi) 器可以分析除稀有氣體(ti) 以外，元素周期表中從(cong) H至U的全部同位素（元素），並能獲取同位素分布的高分辨圖像。納米離子探針的引進，為(wei) 我國比較行星學、地球科學、材料科學、以及生命科學等領域提供了新的大型實驗分析平台。